DQZHAN技術(shù)訊：低壓成套設(shè)備溫升試驗介紹
溫升值是指裝置內(nèi)的開關(guān)電器、母排等部件的工作溫度與周圍空氣溫度之差。裝置內(nèi)各部件的溫升是由多種因素影響的，開關(guān)電器的選擇、相序排列、母排的材質(zhì)、加工及單元模數(shù)的選取、開關(guān)電器的安裝、裝置的防護等級等各種因素都影響溫升數(shù)值。溫升通常采用熱電偶測量，熱電偶具有尺寸小，對被測量點溫升影響小，使用方便等優(yōu)點，在電器及成套測試中應(yīng)用廣泛。
1.溫升試驗對成套設(shè)備的要求
在測量溫升前，成套設(shè)備應(yīng)如正常使用時一樣放置，所有覆板都應(yīng)就位。對繼電器、接觸器、脫扣器等的線圈施加額定電壓。進行溫升的成套設(shè)備應(yīng)具有代表性，如果被測的成套設(shè)備系統(tǒng)包含幾個方案，通常選擇*嚴(yán)酷布置的成套設(shè)備系統(tǒng)進行試驗。
2.試驗電流的確定
試驗應(yīng)在一個或多個有代表性的組合電路上進行，這些電路體現(xiàn)了該成套設(shè)備的主要用途，所選擇的電路應(yīng)能足夠準(zhǔn)確地得到盡可能的*高溫升。
對于這種試驗，進線電路及出線電路通以標(biāo)準(zhǔn)（GB7251.1-2013）中規(guī)定的電流。如果成套設(shè)備中包含有熔斷器，試驗時應(yīng)按制造商的規(guī)定配備熔芯，試驗所用熔芯的功率損耗應(yīng)載入試驗報告中。
成套設(shè)備中的電路的額定電流由制造商根據(jù)電氣設(shè)備的額定值及布置和應(yīng)用情況來確定，如果制造商給出了額定分散系數(shù)，應(yīng)按照制造商給出的分散系數(shù)進行試驗。
3.溫升試驗電路
1）單相溫升試驗電路。
試驗電流小于或等于400A時，可以考慮使用單相法。只有當(dāng)磁場的作用小到可以忽略的程度，多相成套設(shè)備才允許采用單相交流電。這是因為用單相電源進行試驗，相鄰兩導(dǎo)體中通過交流電流時會產(chǎn)生鄰近效應(yīng)，使導(dǎo)體中電流分布不均勻，實際上減小了導(dǎo)體的有效面積，增加了導(dǎo)體的實際電阻。由于三相電與單相電的相位不同，各相導(dǎo)體間鄰近效應(yīng)的影響也不同，所以溫升試驗時的溫升也有差別。
2）三相溫升試驗電路
試驗電路電流大于400A時，要采用三相交流電源。
3）用功率損耗等效的電阻器進行溫升試驗
對于某些主電路和輔助電路額定電流比較小的封閉式成套設(shè)備其功率損耗可使用能產(chǎn)生相同熱量的加熱電阻器來模擬，該電阻器安裝在外殼中適當(dāng)?shù)奈恢蒙?。連到電阻器上的引線截面不應(yīng)導(dǎo)致顯著的熱量傳出外殼。加熱電阻試驗，對相同外殼的所有成套設(shè)備應(yīng)具有充分的代表性，盡管外殼內(nèi)裝有不同的電器元件，但只要考慮電路的分散系數(shù)后，其總功率損耗不超過試驗時的功率損耗即可。
4.溫升測量點的確定
溫升測量點的確定包括內(nèi)裝的元器件進出線處，用于連接外部絕緣導(dǎo)線的端子，母線連接處，母線與導(dǎo)體連接處，可移式部件和抽出式部件進出線插頭，與發(fā)熱元件、發(fā)熱導(dǎo)體相鄰或接觸的絕緣材料，操作手柄等。
5.溫升的測量
用熱電偶測量溫升點，應(yīng)防止空氣流動和熱輻射對熱電偶的影響。試驗的時間足以使溫升上升到穩(wěn)定值（一般不超過8小時），實際上當(dāng)溫升不超過1K/h時，即認為溫升穩(wěn)定。如果元器件允許的話，可以在試驗開始時加大電流，然后再降到規(guī)定的試驗電流值，用這樣的方法縮短試驗時間。
6.環(huán)境穩(wěn)定的測量
環(huán)境溫度應(yīng)在試驗周期的*后1/4期間內(nèi)測量，至少要用兩個熱電偶或溫度計均勻地布置在成套設(shè)備的周圍，其高度約等于成套設(shè)備的二分之一，并距成套設(shè)備1m的地方安裝，應(yīng)防止空氣流動和熱輻射對溫度計或熱電偶的影響。
試驗期間的環(huán)境溫度應(yīng)在10~40攝氏度之間。
7.試驗結(jié)果判定
試驗結(jié)束時，溫升值不應(yīng)超過標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)定值。元器件在成套設(shè)備內(nèi)部溫度下，并在其規(guī)定的電壓極限范圍內(nèi)應(yīng)良好地工作。
